針對粉末繞射數據進行相鑑定
Match!是一款用來，針對粉末繞射數據進行相鑑定的軟體。界面非常直覺且容易使用。該軟體會用使用者的繞射樣式的樣本，與數據庫裡面的參考樣式進行分析比對來進行快速的相位鑑定。數據庫裡面，參考資料的使用，是完全免費的。
功能強大，多面向的附加功能
除了上述所說的基本的數據分析之外，Match! 也有許多附加的功能。它可以進行Rietveld分析，幫助使用者進一步的了解樣本的晶體結構。此外，根據所產出的原始數據，還可以進行更進一步的資料分析。
系統需求
- 作業系統
- Windows XP / Vista / Win 7 / Win 8/8.1 / Win 10
- Mac OX 10.6 Snow Leopard 或以上
- Linux 系統（Intel 32位元或64位元）
- openSUSE / Ubuntu / Fedora releases
- 記憶體：2GB
- 硬碟空間：500MB
